Nouvelle présentation des statistiques de l'OMPI dans le cadre du système de la Haye concernant l’enregistrement international des dessins et modèles industriels.

Dans un communiqué du 3 février 2012, l’Organisation mondiale de la propriété intellectuelle (OMPI) a annoncé qu'une compilation de statistiques annuelles et mensuelles relatives au Système de La Haye concernant l’enregistrement international des dessins et modèles industriels figure sur le site Internet de l’OMPI présentées, depuis début 2012, sous une forme nouvelle et dynamique, consécutive au lancement d’une application Internet interactive. Cette nouvelle application permet aux utilisateurs de composer en mode dynamique leurs propres tableaux et/ou graphiques personnalisés avec de nouveaux critères de recherche, puis de les (...)